弊社では、透過電子顕微鏡（TEM）を用いてEBSDと同様の結晶方位マップを作成できないかという要望を受け、NanoMegas社の開発したASTARシステムの営業・技術サポートを一昨年より開始しております。ASTARでは、TEMのナノビーム回折と組み合わせることにより、SEM/EBSDでは到底なしえなかった数nmレベルの空間分解能での結晶方位マップ測定、そして結晶構造解析を可能としています。
このASTARの開発の中心となった仏・ドメーヌ大学教授のEdgar Rauch博士が5月に来日されるにあたり、この画期的なシステムの紹介を兼ねたワークショップを開催することとなりました。また、日本電子株式会社 大西博士よりこのASTARシステムを用いた解析事例等も合わせてご紹介いただく予定です。
TEMを用いて結晶方位マップを作製することに興味をお持ちの方のご参加をお待ちしております。
NanoMagas社：透過電子顕微鏡（TEM）においてSEM/EBSD法による結晶方位マップを作製するため、TEM回折パターン（スポットパターン）を精度良く 取り込み、さらに指数付けや結晶方位の算出を自動的に行う手法および装置（ASTAR）を開発した会社として注目を集めています。
本社 ベルギー
開催日時：2014年5月9日（金） 13:00〰16:00
会 場：化学会館（東京都千代田区神田駿河台1-5 JRお茶の水駅より徒歩5分）
定 員：30名（先着順）
参 加 費：1000円（資料代として（税込））
プログラム：”講演会のご案内”をご参照ください
申込方法：お名前・ご所属（会社名/部署または大学名/研究室名）・e-mailアドレス・所在地・電話番号を明記のうえ、
タイトルを「ASTAR講演会 申込」として
e-mail（school@tsljapan.com） または FAX（042-770-9314）にてお送りください。