6月9日~6月11日に福岡国際会議場で開催される「日本顕微鏡学会 第81回学術講演会」にて、下記の日程でランチョンセミナーを開催いたします。
皆様のご参加をお待ち申し上げております。
日時 : ６月11日12:20~13:10 会場 : C 会場 (502・503)
講演タイトル
１ 「グラフェン膜を用いたTEM用液中試料作製装置の紹介」 (12:20~12:45)
vitroTEM社(オランダ)が開発した単層グラフェン膜を使用したTEM用液中試料の作製装置およびそのアプリケーション例
をご紹介します。 生の状態の試料の観察を劇的に容易にします。
２ 「TEMを用いた結晶方位解析装置 ASTARの進歩の紹介」 (12:45~13:10)
NanoMEGAS社(ベルギー)が開発したPrecession Diffraction Patternを用いて収集したTEM Diffraction Pattern(PED)の指数付けおよび結晶
方位マップ・相マップの進歩とPEDを使用した試料中の電解の測定やアモルファスの特性を解析するePDFについてご紹介します。
発表者 株式会社ＴＳＬソリューションズ 代表取締役 鈴木 清一