2026年5月25日（月）～27日（水）に仙台国際センター 展示棟にて開催される日本顕微鏡学会第82回学術講演会において、下記の日程でランチョンセミナーを開催いたします。
皆様のご参加をお待ち申し上げております。
・開催日時：2026年5月26日（火） 12時00分～12時50分
・会場名：H会場（会議室4-B）
・会場席数：70席
■講演タイトル
1 “Advances in Liquid-Phase TEM: Naiad and the Graphene Liquid Cell Platform”
「グラフェン膜によるTEM観察用液中試料作製法: Naiad の紹介」(25分)
発表者 : ハンス ラドフォ(Hans RADHOE) vitroTEM B.V.
Graphene Liquid Cell(GLC)技法は、単層グラフェン膜でWetな試料を溶液とともに挟み込みカプセル化することで、そのままTEMによる高分解能観察を可能にする画期的なTEM液中試料作成方法です。vitroTEM社（オランダ）は、本技法を用い完全自動化した試料作製装置(Naiad)を開発･製品化しました。本セミナーでは、この技法の原理や特徴およびそのアプリケーション例をご紹介します。
２ “New Advancement with Precession Electron Diffraction, ASTAR/TopSpin”
「プリセッション電子線回折の新たな応用、ASTAR/TopSpin新機能の紹介」(20分)
発表者 : 鈴木 清一(Seiichi Suzuki) 株式会社TSLソリューションズ(TSL Solutions K.K.)
Precession Diffraction Pattern(PED)法を用いたNanoMEGAS社（ベルギー）製ASTARは、TEMを用いた高分解能結晶方位マップ・相マップの作制技術として広く認識されています。近年その応用として、試料の格子歪みの測定、試料中の電場の変化の可視化(e-field)そしてアモルファスの特性(原子間距離)等の解析を行うelectron Pair Distribution Function (e-PDF)も可能になっています。本セミナーでは、これら技法の原理とそのアプリケーション例をご紹介します。
■ランチョンセミナー整理券について
・ランチョンセミナー整理券は開催日当日に、参加受付付近にて事務局が配布いたします。
・整理券はセミナー開始5分後まで有効とし、それ以降、整理券は無効となります。
・整理券なしでご参加の場合は、セミナー開始5分後以降、空席やお弁当が余っている場合はご入 場いただけます。